Kalibrointipalvelut

The Metrology Research Institute is the Finnish National Standards Laboratory for optical quantities. MRI gives calibrations on the optical quantities listed in the table below with the indicated measurement ranges and uncertainties.

The Metrology Research Institute also offers consultation services and other support in measurement technology.

Contact: farshid.manoocheri [at] aalto [dot] fi

 

SUUREET, MITTAUSALUEET, AALLONPITUUSALUEET JA EPÄVARMUUDET

 

Suure

Mittausalue

Aallonpituusalue

Epävarmuus (k=2)

Valovoima

10 – 10 000 cd

0,3 %

Valaistus­voi­mak­­kuus

10 – 200 lx

0,2 %

 

200 – 2 000 lx

 

0,3 % – 0,5 %

Luminanssi

5 – 40 000 cd m-2

0,8 %

Valovirta

10 – 10 000 lm

1,0 %

Spektrinen irradianssi

10 pW mm-2 nm-1 –

290 – 380 nm

1,1 % – 2,8 %

 

500 mW mm-2 nm-1

380 – 900 nm

0,6 % – 1,1 %

Spektrinen radianssi

5 mW m-2 sr-1 nm-1 – 6 W m-2 sr-1 nm-1

290 – 900 nm

1,0 %

Värikoordinaatit [1] (xy)

0 – 1

0,1 %

Värilämpötila

1 000 – 3 500 K

0,15 %

Optinen teho

0,1 – 0,5 mW

325, 442, 457.9, 465.8, 472.7, 476.5, 482.6, 488.1, 496.7, 501.7, 514.5, 520.9, 531, 543.5, 568.4, 633, 635, 647.3, 676.6, 932, 1523 nm

0,05 %

 

10 nW – 1 mW

250 – 380 nm

0,3 % – 0,8 %

 

10 nW – 1 mW

380 – 920 nm

0,1 % – 0,3 %

 

10 mW - 10 W

250 nm – 16 mm

2 % – 10 %

SUUREET, MITTAUSALUEET, AALLONPITUUSALUEET JA EPÄVARMUUDET

Transmittanssi [2]

0,0005 – 1

250 – 380 nm

0,1 % – 1 %

 

0,0001 – 1

380 – 920 nm

0,05 % – 0,5 %

 

0,0005 – 1

920 – 1700 nm

0,1 % – 1 %

Spektrinen herkkyys

 

250 – 380 nm

1 %

 

> 0,01 A/W

380 – 920 nm

0,5 %

 

 

920 – 1700 nm

4 %

Reflektanssi4 (5°–85°)

0,05 – 1

250 – 380 nm

0,5 % – 5 %

 

0,01 – 1

380 – 1000 nm

0,3 % – 3 %

Hajaheijastusluku4

0,05 – 1

360 – 830 nm

0,4 % – 1 %

Optinen aallonpituus[3]

400 nm – 1,55 mm

0,01 nm

 

  1. Väärikoordinaatit voidaan määrittää ainoastaan lähteille.
  2. Transmittanssin, reflektanssin ja hajaheijastusluvun epävarmuudet on annettu suhteellisina epävarmuuksina. Epävarmuudet riippuvat mitattavasta arvosta, kulmasta ja aallonpituudesta.
  3. Yhteistyössä Mittatekniikan keskuksen kanssa.

Page content by: | Last updated: 20.08.2014.